參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

開(kāi)路電位測(cè)試：測(cè)量范圍-2.0V至+2.0V（vs.SCE）,，分辨率≤0.1mV

極化曲線掃描：掃描速率0.01-100mV/s,，電流密度范圍±10A/cm2

腐蝕電位差測(cè)量：精度±1mV（符合ASTM G5標(biāo)準(zhǔn)）

接觸電位差分析：微歐級(jí)電阻測(cè)量（0.1μΩ~10kΩ）

局部電位差掃描：空間分辨率≤10μm（配備微參比電極系統(tǒng)）

檢測(cè)范圍

金屬材料：不銹鋼/鋁合金/鈦合金的鈍化膜完整性評(píng)估

涂層體系：環(huán)氧樹(shù)脂/聚氨酯涂層的抗?jié)B透性驗(yàn)證

電子元器件：PCB焊點(diǎn)/連接器插針的接觸電阻測(cè)定

能源材料：鋰離子電池電極材料的界面穩(wěn)定性分析

復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)塑料（CFRP）的層間電偶腐蝕監(jiān)測(cè)

檢測(cè)方法

ASTM G5-14(2019)：金屬動(dòng)電位極化電阻標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試法

ISO 17475:2005：非導(dǎo)電涂層破損電位的恒電位階躍法

GB/T 17899-1999：不銹鋼點(diǎn)蝕電位的動(dòng)電位掃描測(cè)定

ASTM B117-19：鹽霧試驗(yàn)中金屬間電位差監(jiān)測(cè)規(guī)范

GB/T 3138-2015：金屬與其他材料接觸電偶腐蝕試驗(yàn)方法

檢測(cè)設(shè)備

Princeton Applied Research VersaSTAT 4：多通道恒電位儀（支持±24V/3A輸出）

Gamry Reference 600+：高阻抗電化學(xué)工作站（頻率范圍10μHz~1MHz）

Keysight B2902A精密源表：皮安級(jí)電流測(cè)量（最小分辨率1pA）

Hitachi SU8000場(chǎng)發(fā)射電鏡：配合EDS實(shí)現(xiàn)微區(qū)電位分布成像

Zahner Zennium Pro電化學(xué)阻抗譜儀：多點(diǎn)Mott-Schottky曲線分析模塊

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)